壹定发

半導體測試板

Load Board

Load Board

測試負載板是一種連接測試設備與被測器件的機械及電路接口，主要應用在半導...

probe card

probe card

探針卡在CP測試中用于連接測試機和Die上的Pad，通常作為Loadboard的物理接口...

BIB

BIB

BIB（BURN IN BOARD，老化測試），完成封裝測試的IC在特定的工況和時間內老化測試...

Interposer

Interposer

Probe card 的信號通過interposer中介層的轉換讓Probe head（探針頭）的探針可以接收到信號...

<tfoot id='lYEwp'></tfoot>

<legend id='PX3iF'><style id='hh0IH'><dir id='bHLYj'><q id='uE6br'></q></dir></style></legend>

<i id='03vAO'><tr id='1Gbwf'><dt id='gVJ8c'><q id='BhkaV'><span id='zolX6'><b id='gfKnS'><form id='6u3ud'><ins id='wGy2g'></ins><ul id='adH8U'></ul><sub id='Bmhx6'></sub></form><legend id='L83eM'></legend><bdo id='VQHFH'><pre id='V7XNk'><center id='V3p4P'></center></pre></bdo></b><th id='6Ts4V'></th></span></q></dt></tr></i><div id='3O9tq'><tfoot id='eBEcM'></tfoot><dl id='XUFGl'><fieldset id='ueHL0'></fieldset></dl></div>